該3086型1nm-DMA差分靜電遷移分析儀一般和TSI 3082型靜電分級器 、 3777型納米增強儀 以及凝聚粒子計數(shù)器 配套使用，且該分析儀工作流程已經(jīng)被最優(yōu)化，不但能夠將散逸損失降至 最低，而且能夠提高1nm到50nm顆粒物的粒徑測量的粒徑 分辨率。

特點優(yōu)勢

分析從1到50nm粒徑的顆粒物

SMPS（掃描電遷移粒徑譜儀）的關鍵組件

應用范圍

顆粒物粒徑測量